ic设计案例,ic设计流程及工具
作者:admin 发布时间:2024-02-10 06:15 分类:资讯 浏览:12 评论:0
量产后IC质量如何控制?TSMC教本土IC公司绝招
1、研发人员300余人,海内外专利持有量达130多件,并先后获得国家规划布局内重点集成电路设计企业、高新技术企业,中国五大潜力IC设计公司、“中国芯”优秀市场表现奖等荣誉。
2、公司专注于射频集成电路领域的研究、开发与销售,主要向市场提供射频开关、射频低噪声放大器、射频滤波器、射频功率放大器等射频前端分立器件及各类模组产品,同时公司还对外提供低功耗蓝牙微控制器芯片。
3、此外,也导入TSMC 9000A质量管理系统来规范车用硅智财,透过和第三方硅智财供应商合作来建立车用设计生态环境。台积公司持续开发更多7纳米车用基础硅智财,并于2020年第一季通过AEC-Q100 Grade-2验证。
4、一大片晶圆可以切成很多的芯片,越靠近圆中心的理论上质量越好,质量较差的就做成型号较低的 。这其中还有良率问题,也就是有些是问题芯片,不能用。我们在做高规格的芯片时,往往不良率很高,实现不了量产。
数字IC芯片验证流程及验证软件推荐?
阅读spec 根据spec,制定testplan 根据testplan,写testcase 搭建验证环境 跑仿真并debug 持续跑 RTL regression 持续跑 SDF regression 收集代码/功能覆盖率,并完善testplan和增加testcase。
EVB(Evaluation Board) 开发板:软件/驱动开发人员使用EVB开发板验证芯片的正确性,进行软件应用开发。
PSpice:最为常用的仿真软件,后来把orcad收购,之后又被cadecne收购,下载orcad或者cadence10,12等可以包含了,直接可以用。主要用于模拟电路仿真,数字电路仿真还有很多缺点。使用起来比较简单,windows操作习惯。
时钟树综合的目标
1、时钟树综合(Clock Tree Synthesis)一直是数字后端实现中最为重要的步骤之一。随着芯片时钟越来越多,设计阶段都采用了时钟切换电路,时钟结构越来越复杂(除了func mode外,还有test mode和mbist等模式)。
2、时钟树综合就是指从某个clock的root点长到各个sink点的clock buffer/inverter tree。工具试图将某个clock所属的所有sinks做到相同长度。从概念上,我们可以得到几个要点。
3、Custom时钟树综合 对于简单的设计,可能clock_opt -cts或者ccopt_design -cts就可以把tree做的很好。但是对于复杂时钟结构的SOC设计,我们能否直接执行命令做Tree呢?显然是不能的。
4、时钟树综合为了减少时钟偏差,我们引入时钟树综合。它通过一系列的缓冲单元,确保时钟信号的稳定传输。这就像是为城市建立稳固的交通体系,确保信息传递无误。
5、时钟树综合:在超大规模集成电路中,存在大量需要时钟信号进行同步的寄存器,这就需要构建一个时钟信号的分布传输网络,来提供时钟偏移尽可能小的同步时序。在集成电路的物理设计阶段,需要设计一个良好的时钟树结构。
6、RTL逻辑综合的主要目标包括优化时序、功耗和面积。在物理实施阶段,同样需要优化芯片的总面积和芯核面积,这样可以进一步减小功耗。
目前我国半导体产业投资大环境怎么样?
半导体产业是一个非常重要的产业,它涉及到很多领域,如计算机、通信、医疗等。目前,全球半导体行业正在经历一些变化,包括技术创新、市场需求、政策环境等方面的变化。
上海新升将弥补中国半导体产业最核心原料的缺失。国家大基金有意投资,且上海新升已经确定入驻临港产业园区集成电路基地,有望受益上海集成电路基金扶持。
国产化进程将加速 未来,在市场规模趋势方面,我国第三代半导体行业将持续保持高速增长;在细分产品发展趋势方面,SiC需求将会增长,GaN应用场景将进一步拓展;在技术发展趋势方面,大尺寸Si基GaN外延等问题将会有所进展。
ic反应器壁厚一般是多少
1、δ=(P×D)÷(2δt×φ-P)+1。根据查询《钢制压力容器》得知,反应器壁厚的计算公式为δ=(P×D)÷(2δt×φ-P)+1。反应器是一种实现反应过程的设备,广泛应用于化工、炼油、冶金等领域。
2、热壁加氢反应器壁厚一般在100~300mm,因此壳体纵环缝焊接工作量及难度都很大,且埋弧焊焊接工艺过程稳定,焊接质量易于保证,所以对纵环缝目前主要采用埋弧自动焊。
3、IC(internal circulation)反应器是新一代高效厌氧反应器,即内循环厌氧反应器,相似由2层UASB反应器串联而成。
4、节省投资和占地面积:IC 反应器容积负荷率高出普通UASB 反应器3倍左右,其体积相当于普通反应器的1/4—1/3 左右,大大降低了反应器的基建投资;而且IC反应器高径比很大(一般为4—8),所以占地面积少。
5、IC反应器为有机玻璃制成,有效容积为25L,反应器总高度为1500mm,沿柱高设置多个取样孔。将反应器安装在恒温箱内,用WMZK-01温控仪和热源构成自动温控系统,将温度控制在(35±1)℃。
电子元器件失效分析与典型案例的目录
扫描电子显微镜分析:扫描电子显微镜(SEM)是进行失效分析的一种最有用的大型电子显微成像系统,其工作原理是利用阴极发射的电子束经阳极加速。
元器件是最易损坏的物品,但是电子元器件造成故障却是有规律可循的。一般的故障表现为电气参数损坏和物理损坏两类,那么电气参数的损坏又包含电压电流超过额定值导致的损坏,物理的损坏包括断裂,变形,阻值参数变化等表现形式。
按失效程度,可以分为完成失效、局部(或间歇性)失效、特性退化。(2)按失效后果的严重性,可以分为致命失效、严重失效、轻度失效。
如何对材料失效分析:对失效电子元器件进行诊断过程。进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。
- 上一篇:前端设计chm,前端设计和后端设计的区别
- 下一篇:弱电设计详图,弱电设计方案怎么做
相关推荐
你 发表评论:
欢迎- 资讯排行
- 标签列表
- 友情链接